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产品介绍
单点厚度测量--F20
一键搞定的薄膜厚度和折射率台式测量系统。 测量 1nm 到 13mm 的单层薄膜或多层薄膜堆。
微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量--F40
当测量斑点只有1微米(µm)时,需要用您自己的显微镜或者用我们提供的整个系统。
自动厚度测量系统--F50
几乎任何形状的样品厚度和折射率的自动测绘。人工加载或机器人加载均可。
自动化薄膜测绘
Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘,样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们的量产系统能够执行数百万次的量测!)
測绘圖案可以是极座標、矩形或线性的,您也可以创造自己的测绘方法,并且不受测量点数量的限制。內建数十种预定义的测绘圖案。
不同的 F50 仪器是根据波长范围来加以区分的。 标准的 F50是受欢迎的产品。 一般较短的波长 (例如, F50-UV) 可用于测量较薄的薄膜,而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
在线厚度测量系统--F30
监测控制生产过程中移动薄膜厚度。高达100 Hz的采样率可以在多个测量位置得到。